Metrologia przemysłowa należy do szybko rozwijających się dziedzin – musi bowiem nadążyć za zmianami w szeroko pojętym przemyśle, w tym ze spełnieniem oczekiwań związanych z wdrażaniem koncepcji Przemysłu 4.0. Wśród nowych trendów w tym obszarze z pewnością zwraca uwagę wzrost popularności tomografii komputerowej – technologii, która pozwala badać nie tylko skomplikowane kształty, ale również ukryte powierzchnie.

ZEISS O-INSPECT duo łączy dwie technologie w jednym produkcie i zapewnia narzędzie zarówno dla mikroskopii, jak i metrologii (optycznej i stykowej).

Metrologia i kontrola przemysłowa rozwijają się równie szybko jak obszary związane stricte z procesami produkcyjnymi. Ciężko dziś wyobrazić sobie zaawansowaną i zautomatyzowaną produkcję, która wiąże się np. z procesami obróbki CNC, bez równie zaawansowanych i niezawodnych systemów kontrolno-pomiarowych. Bogatą ofertę rozwiązań z tego obszaru będzie można zobaczyć podczas kieleckich targów STOM.

Czwarta rewolucja przemysłowa i związane z nią technologie już od dekady są punktem docelowym zmian, jakie obserwujemy obecnie w światowym przemyśle. Idea Przemysłu 4.0 coraz bardziej widoczna jest również w halach wystawowych targów ITM Industry Europe na stoiskach wystawców, a także podczas debat i szkoleń.